数字大规模集成电路测试系统通过鉴定 [复制链接]

第3版(教育·科技·文化)
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　　数字大规模集成电路测试系统通过鉴定
本报讯 “七五”国家重点科技攻关项目ＳＰ３１６０Ｘ数字大规模集成电路测试系统，于７月下旬在北京通过了机电部新产品成果鉴定。
该系统是由北京自动测试技术研究所和北京科力新技术发展总公司共同研制的，是目前我国同类产品中水平最高的新一代集成电路测试系统，其性能指标达到国际８０年代同类产品水平，但售价仅为国外产品的１／３至１／４。
集成电路测试技术与设备是发展集成电路工业的重要支撑条件。与国外相比，我国在此领域中起步晚、发展慢、水平低。因此国家一直把集成电路测试技术的研究和设备的研制作为重点科技攻关项目。该测试系统研制成功，将为国内集成电路生产厂、电子整机厂、设计部门及质量监测部门提供急需的功能强、可靠性高的新型测试设备。　　　　　
　　　　　　　　　（杨文祥）