多值逻辑测试仪问世 [复制链接]

第3版(教育·科技·文化)
专栏：

　　多值逻辑测试仪问世
本报讯为了进一步提高国内电子行业产品质量，位于北京新技术产业开发试验区上地信息产业基地的聚星电子技术研究所日前开发出数字集成电路多值逻辑测试仪，并投入批量生产。
新研制的多值逻辑测试仪在测试时，电源自动拉偏，同目前国内市场中的低档数字集成电路功能测试仪相比，不仅具有更完善的数字集成电路逻辑测试功能，而且还可测试器件，包括输入电流、交叉漏电流，输出负载电流、功耗电流、输出电平在内的各项直流参数。它可靠实用，操作简单，智能化程度高。　　　　　　
　　　　　　（于巨光）